获取优惠价格

Tel:18790282122

产品列表

新闻中心

碳化硅样品碳化硅样品碳化硅样品

碳化硅-碳化硅成分分析国家标准样品-济南众标科技有限公司

2023年4月25日样品编号： ZBN430 名称及牌号：碳化硅样品分类：焦炭、石油焦、沥青焦、石墨、碳化硅系列国家标准样品二级分类：碳化硅成分分析国家标准样品国别： 2023年4月26日碳化硅成分分析国家标准样品-济南众标科技有限公司. 您当前的位置：首页产品分类焦炭、石油焦、沥青焦、石墨、碳化硅系列国家标准样品碳化硅成分分析国家碳化硅成分分析国家标准样品-济南众标科技有限公司

SN∕T 1039-2020 进出口吨包装碳化硅取样制样方法(出入境 ...

2022年6月18日本标准所代替标准的历次版本发布情况为：SN/T 10392002。1SN/T 10392020进出口吨包装碳化硅取样制样方法1 适用范围本标准规定了进出口吨袋包 4、装碳化硅成分分析国家标准样品. 标物编号： GSB08-3221-2014-3. 英文名称： CAS NO：标准值：见证书. 产品规格： 50g/瓶. 保存条件：常温避光。库存状态：现货. 产品价碳化硅成分分析国家标准样品_标准物质研发中心_标准物质 ...

团体标准

2019年10月12日需要一个非故意掺杂的碳化硅作为空白样品，样品尺寸约为 10mm×10mm。保证空白样品表面平坦光滑，如需要可对样品表面进行化学腐蚀抛光或 2021年3月13日为探明碳化硅国内外标准的情况和差异，本文调研、分析并选择了中国国家标准和行业标准、国际标准及美国、欧洲、日本、俄罗斯、罗马尼亚相关标准，选择碳化国内外碳化硅标准比对分析 - 艾邦半导体网

国家标准委发布《耐火材料用碳化硅标准样品》_百度文库

近日，国家标准委发布关于批准发布《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品的公告。《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品由质检总局与国家标准. f化近日，国家标准委发布关于批准发布《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品的公告。《耐火材料用碳化硅标准样品》等48项国家标准样品由质检总局与国家标准. f化国家标准委发布《耐火材料用碳化硅标准样品》页PPT文档

碳化硅的测定_百度文库

热重法是通过样品在高温环境下发生质量变化来分析样品成分。碳化硅在高温下，其化学反应会导致质量变源自文库，该方法通过热重分析仪来测量样品在高温下质量的变化，根据变 2020年2月19日通过矢量网络分析仪表征了碳化硅纳米纤维-石蜡复合材料的电磁参数，从而得出了碳硅纳米纤维-石蜡复合材料的反射损耗曲线。结果表明，当碳化硅纳米纤维-石蜡复合样品的厚度为1.6 mm时，在15.8 GHz处达到的最小反射损耗（RLmin）为-40 dB，有效吸收带宽为3.8 GHz，显示出了良好的吸波性能。碳化硅纳米纤维的制备及电磁波吸收性能

碳化硅-碳化硅成分分析国家标准样品-济南众标科技有限公司

2023年4月25日样品编号： ZBN430 名称及牌号：碳化硅样品分类：焦炭、石油焦、沥青焦、石墨、碳化硅系列国家标准样品二级分类：碳化硅成分分析国家标准样品国别：国内样品状态：粉末成套或单块：单体规格：销售状态：上传证书：有研制单位：济南众标 2023年4月20日近日，中国电科55所与一汽联合推动碳化硅功率器件及模组科技创新，研发的首款750V碳化硅功率芯片完成样品流片，首款全国产1200V塑封2in1碳化硅功率模块完成A样件试制。碳化硅作为第三代宽禁带半导体材料的代表，在禁带宽度、击穿电场、热导 ...中电科55所碳化硅芯片样品流片第三代半导体百亿市场空间可期

立体光固化 3D 打印成型碳化硅陶瓷的烧结特性 CERADIR ...

2022年3月2日样品的脱脂收缩率较低,小于 5% ,特别是增材方向仅为 0. 88% 。反应熔渗后样品致密度良好,体积密度为 2. 79 g/cm³,抗弯强度为 183. 99 MPa。(3)立体光固化成型后样品中光敏树脂与碳化硅颗粒结合情况良好,断口处可见清晰的层间界限。2021年7月15日前驱体溶液进行立体光固化成型后，将成型素坯在氮气气氛下加热至1 000 ℃，成功制得碳化硅样品。但通过前驱体转化制得的碳化硅样品致密度一般不高，难以满足光学反射镜的使用要求，另外陶瓷产率和SiO2、SiOC 杂质等问题也限制了陶瓷前驱体的应用。立体光固化 3D 打印成型碳化硅陶瓷的烧结特性

三菱电机发布J3系列碳化硅和硅功率模块样品-盖世汽车资讯

2024年1月26日三菱电机发布J3系列碳化硅和硅功率模块样品. 盖世汽车钟群 2024-01-26 18:10:30. 盖世汽车讯 1月23日，三菱电机公司（Mitsubishi Electric）宣布即将发布6款 ...2019年2月27日本文简要介绍了650V、45mΩ碳化硅功率MOSFET样品的短路实验，以及相关的失效分析和建模策略。短路试验分析与结构模拟在做短路实验(SCT)前，先用电压电流曲线测量仪对待测样品的栅极氧化层进行完整性测试，如图1(a)所示。碳化硅MOSFET的短路实验性能与有限元分析法热模型的开发

阿基米德浮力原理液体浸渍置换法连续碳化硅纤维密度计的 ...

2020年11月24日用于测定连续碳化硅纤维密度的仪器，按照测试原理可以分为液体置换法及密度梯度管法。液体置换法是通过将样品沉浸入已知密度ρ0的液体介质中，通过样品在空气中重量m1及其在水中的重量m2，反算出其体积v。SiC SBD/碳化硅肖特基二极管 SiC MOSFET/碳化硅金属氧化物场效应晶体管 SiC Module/碳化硅功率模块 ... 样品及购买 SamplesOrder 小批量订单在线提交瞻芯电子在线商城入口联系销售索取批量报价 ...样品及购买-在线购买-瞻芯电子Inventchip 致力于打造中国领先 ...

一种碳化硅外延晶片生长用样品托上的复合涂层制备方法与流程

2021年12月31日附图说明 23.图1是本发明的流程图；24.图2是一个周期结构复合涂层的碳化硅外延晶片生长用样品托；25.图3是两个周期结构复合涂层的碳化硅外延晶片生长用样品托；26.图4是圆形羊毛毡吸附金刚石微纳颗粒打磨碳化硅(sic)涂层的打磨示意图。潍坊凯华碳化硅微粉有限公司成立于2002年，国家高新技术企业，公司占地40亩，标准厂房19000平方，办公楼、研发中心2000平方，年生产能力3万吨。. 一直从事陶瓷级微粉的生产销售，所生产的微粉具有纯度高、粒形好碳化硅微粉,碳化硅超细微粉-潍坊凯华碳化硅微粉有

芯报丨2025年全球碳化硅器件市场需求达百亿，中电科55所 ...

2023年4月20日近日，中国电科55所与一汽联合推动碳化硅功率器件及模组科技创新，研发的首款750V碳化硅功率芯片完成样品流片，首款全国产1200V塑封2in1碳化硅功率模块完成A样件试制。机构分析指出，碳化硅下游需求不断扩大，百亿市场空间可期。2023年3月7日除此之外，腐蚀在 SiC 器件制造过程也有相关应用，目前图形转移工艺主要采用反应性离子刻蚀（RIE）、高温气体刻蚀等干法刻蚀技术，而湿法腐蚀具有腐蚀速率高、缺陷选择性等特点，可以作为干法刻蚀的技术补充。. SiC 的湿法腐蚀过程主要包括晶体表面碳化硅湿法腐蚀工艺研究、碳化硅（SiC）、法腐蚀工艺

SNT 0256-1993出口碳化硅分析方法碳化硅含量的测定 - 副本.pdf

2017年6月4日 4碳化硅含里的测定 41 燃烧一重量法(方法一) 4.1.1 方法提要试祥置于高温炉内在一定温度下灼烧，除去游离碳后，称取灼烧后残遣，加助熔剂在氧气流中高温加热，分解使碳化硅中的碳完全媲烧生成二氧化碳，二氧化碳用装有碱石棉及高氯酸镁的吸收瓶阿里巴巴GSB08-3221-2014-2（ZBN431）碳化硅标准样品50g碳化硅标准物质，其他化学试剂，这里云集了众多的供应商，采购商，制造商。这是GSB08-3221-2014-2（ZBN431）碳化硅标准样品50g碳化硅标准物质的详细页面。产地:中国，型号:GSB08-3221-2014-2（ZBN431），是否进口:否，级别:标准样品，货号:GSB08-3221-2014-2 ...GSB08-3221-2014-2（ZBN431）碳化硅标准样品50g碳化硅 ...

从测试含有纳米颗粒的碳化硅样品看Bettersize2600的优良性能

2023年9月25日最近，百特实验室用Bettersize2600激光粒度仪测了一个碳化硅样品，粒度分布图如下：开始，我们对这个结果产生了疑惑：以往的碳化硅样品的粒度分布图形不都是很漂亮的吗？为什么这个碳化硅会是这样的峰形呢？前面的峰到底有没有呢？测的数据对 2023年12月18日样品数量为了提高测试结果的可靠性，通常需要对多个样品进行测试；样品数量应根据材料的均匀性和测试设备的精度来确定。6. 样品存储在测试前，样品应妥善存储，避免受到环境因素的影响，如温度、湿度、光照等。纳米压痕/划痕测试的样品制备与要求-测试狗科研服务

一种检测碳化硅中氧含量的方法 - 百度学术

2016年8月24日 1.一种检测碳化硅中氧含量的方法，其特征在于包括以下步骤： (1)准备工作：a.将碳化硅微粉试样过200-400目筛后，在100-110℃条件下干燥1.5-3小时；b.以镍丝为助熔剂，在混合酸中浸洗；c.测定干燥后碳化硅微粉试样的比表面积；d.选取镍囊作为碳化硅微粉 2023年4月26日国家编号：GSB08-3221-2014-3 样品编号：ZBN432 样品名称：碳化硅 SiC 97.87 Fe 2 O 3 0.39 CF 0.48 SiF 0.18 SiO 2 0.55 Al 2 O 3 0.1 CaO 0.055 MgO 0.008碳化硅-碳化硅成分分析国家标准样品-济南众标科技有限公司

碳化硅检测项目及相关标准和方法二氧化硅氧化镁碳化硅 ...

2024年3月20日样品：样品应具备代表性和一致性，能够反映出整批碳化硅的平均成分和性能，并在干燥、清洁、无尘的条件下保存和处理，避免样品污染和变质。方法：方法应选择合适的检测项目和方法，根据实际情况调整检测条件，并严格按照标准或规范执行，并做好记录和标记，避免方法误差和混乱。2023年4月20日碳化硅作为第三代宽禁带半导体材料的代表，在禁带宽度、击穿电场、热导率、电子饱和速率等指标具有显著优势，可满足现代工业对高功率、高 ...中电科55所碳化硅芯片样品流片第三代半导体百亿市场空间可期

国基南方、55所：加速碳化硅MOSFET技术攻关，打造汽车 ...

2024年2月28日持续推进碳化硅MOSFET关键核心技术攻关和产业化应用，国基南方、55所碳化硅团队贯通碳化硅衬底、外延、芯片等全产业链量产平台，陆续攻破高温高能离子注入、高迁移率栅氧化等关键工艺。. 经过集智攻坚，团队建立国内第一条6英寸碳化硅功率产品生 2024年6月4日该方法可以消除接触电阻对测量结果的影响，提供准确的电阻率值。以下是使用四探针法测量碳化硅电阻率的步骤： 1. 准备样品：将碳化硅样品切割成适当的尺寸，并确保样品表面光滑清洁。 2. 连接四探针：将四个探针分别连接到电流源和电压测量仪上。碳化硅的电阻率怎么测 - CSDN文库

碳化硅_百度百科

2023年5月4日碳化硅，是一种无机物，化学式为SiC，是用石英砂、石油焦（或煤焦）、木屑（生产绿色碳化硅时需要加食盐）等原料通过电阻炉高温冶炼而成。碳化硅是一种半导体，在自然界中以极其罕见的矿物莫桑石的形式存在。自1893年以来已经被大规模生产为粉末和晶体，用作磨料等。在C、N、B等非氧化物 ...阿里巴巴1寸晶圆单片硅片盒样品展示盒碳化硅包装盒厂家直销，电子元器件包装，这里云集了众多的供应商，采购商，制造商。这是1寸晶圆单片硅片盒样品展示盒碳化硅包装盒厂家直销的详细页面。产地:中国，是否进口:否，加工定制:是，货号:1寸晶圆单片硅片盒，材质:PP，包装层次:百级无尘 ...1寸晶圆单片硅片盒样品展示盒碳化硅包装盒厂家直销 ...

碳化硅成分分析国家标准样品_标准物质研发中心_标准物质 ...

碳化硅成分分析国家标准样品_河南标准物质研发中心,万佳首化生物，国内权威标准物质一站式采购平台，国家标准物质研制单位,产品涵盖日本、美国、英国、德国、等,标准品,对照品,并提供各种单标及混标定制服务,同时提供标准查询,计量图书,计量器具和计量检测等综合服务,一站式满足您的需求 ...

在线留言

首页

Tel

联系我们

QQ